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    • fischerscope x-ray xul xym上海

      更新時間:2021-01-14

      廠商性質:代理商

      fischerscope x-ray xul xym上海 FISCHERSCOPE®-X-RAY XUL是一款應用廣泛的能量色散型X射線熒光光譜儀,它結構緊湊,小巧耐用。它們十分適用于無損測量鍍層厚度和成分分析。比例接收器能實現高計數率,這樣就可以進行高精度測量。
    • 德國菲希爾fischer xdl-230鍍層膜厚測試儀

      更新時間:2020-11-06

      廠商性質:代理商

      德國菲希爾fischer xdl-230鍍層膜厚測試儀 FISCHERSCOPE X-RAY XDL 230是一款用戶界面友好的臺式測量儀器。手動操作的X-Y工作臺,馬達驅動的Z軸系統。高分辨率的彩色視頻攝像頭具備強大的放大功能,可以準確定位測量位置。通過視頻窗口,還可以實時觀察測量過程和進度。測量箱底部的開槽是專為面積大而形狀扁平的樣品所設計
    • x射線鍍層測厚儀_xdv-µ-pcb

      更新時間:2021-05-13

      廠商性質:代理商

      x射線鍍層測厚儀_xdv-µ-pcb FISCHERSCOPE X-RAY XDV-μ測量系統擁有先進的多毛細孔X射線聚焦裝置,既能有效地縮小測量點的面積,又能大幅加強射線的強度。儀器配備了大面積硅漂移探測器,特別適用于在小工件上測量非常薄鍍層的厚度或者進行痕量分析。
    • XULM 240德國fischer膜厚儀 X射線熒光測厚儀

      更新時間:2020-09-17

      廠商性質:代理商

      德國fischer膜厚儀 X射線熒光測厚儀 XULM特別適合測量細小的部件如連接器,觸點或線,也可以測量印刷線路板上的Au,Ni和Cu鍍層厚度。即使80nm的很薄的金鍍層也可以用測量點為Ø0.25mm的準直器測量,20秒的重復精度可達2.5nm。
    • Fischer X-RAY XUV773 X射線熒光鍍層測厚儀

      更新時間:2020-12-28

      廠商性質:代理商

      Fischer X-RAY XUV773 X射線熒光鍍層測厚儀 FISCHERSCOPE X-RAY XUV儀器配有一個可抽真空的大型測量箱。其所裝備的大面積硅漂移探測器能夠探測低至1 keV的熒光輻射能量,從而能夠有效地測量元素Na、Mg以及元素Zn、Cu、Ni的L輻射。
    • Fischer XDAL237 X射線熒光測厚儀

      更新時間:2020-09-17

      廠商性質:代理商

      Fischer XDAL237 X射線熒光測厚儀 FISCHERSCOPE X-RAY XDAL型儀器的測量空間寬大,可以用于測量復雜幾何形狀的各種樣品。馬達驅動可調節的Z軸允許放置*高可達140mm高度的樣品。C型槽設計可以方便地測量諸如印刷線路板等大平面樣品。測量系統配有快速可編程的XY平臺,因而可以方便地按照預定程序掃描檢查樣品表面
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